Ram Stress Test是一款免费的内存條检测工具，可以帮助用户检测内存條是否存在颗粒损坏和PCB板是否短路等常见故障问题，支持检测SD内存、DDR内存等。无论是电脑店还是个人使用可以说都是十分好用的了，推荐大家下载！

Ram Stress Test使用方法

下载后解压后，用UltraISO制作到U盘启动，不依赖任何操作系统，只要BIOS能识别的内存它都能检测;包内軟件是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件

1、点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它(可解决部分点不亮问题)。必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。本軟件会自动跳过好的去检测坏的那根

2、发现 ATS 选项错误，在BIOS中，记忆体选项设成Auto时，记忆体的CL=2，改成Manual，自设CL=2.5时，上述选项才能通过

3、程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K)，第二项是扩展内存地址，第三项是测试CPU的 L2 cache

4、軟件为光盘镜像文件，用刻录机做成成启动光盘(如需要软盘版的请留言说明)，使用非常简易，电脑只要设定为软、光盘启动，插入制作好的盘即可自动运行。它是一个独立开发的系统，没有依附任何作业系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量都能测

5、可以測試SD及DDR內存

6、闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF

依次代表內存條的8顆顆粒

從左到右橫著數：0-7代表第1顆粒區域、8-F代表第2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表第7顆粒、8-F代表第8顆粒